Profilo, Rugosità, Forma, Reverse Engineering di
superfici, Modellazione CAD Real 3D ad alta risoluzione
Infinite Focus è un sistema di misura
3D senza contatto impiegabile sia in sala metrologica
che nei processi produttivi che consente mediante una
sola scansione multifocale la misurazione di rugosità,
profilo e forma 3D di superfici e componenti con
un'altissima precisione (< 10 nm). (download
PDF) (multimedia)
Scanner ottici Real 3D, reverse engineering, misure,
failure analisys di oggetti di qualsiasi forma e
dimensione
Microscopia Digitale 3D
Il videomicroscopio digitale
3D HIROX grazie alla sua notevole modularità e
adattabilitàalle diverse problematiche di
ispezione rappresenta il superamento dei
limiti applicativi della microscopia ottica tradizionale
e la punta avanzata delle metodologie di imaging nel
controllo di qualità dei materiali con metodi non
distruttivi. (download
PDF) (multimedia)
Phenom-Worldè l'alternativa generazionale della
microscopia ottica tradizionale superandone, con
un investimento paragonabile, i limiti di
profondità di campo, ingrandimento e risoluzione
attraverso un semplice impiego delle tecnologie
di microscopia elettronica a scansione
.
(download
PDF) (multimedia)
Oltre 30 brevetti
depositati da Carl Zeiss Innovation Centerposizionano il Discovery come il piu’ avanzato
stereomicroscopio disponibile sul mercato internazionale
ed aprono nuove possibilità di ispezione nell’ambito
delle attività di routine, della ricerca e analisi dei materiali.
Con questa seconda generazione Axio Imager Carl Zeiss
risponde alle crescenti esigenze della
industria e della ricerca, fornendo una serie di
funzioni automatiche per un comfort operativo avanzato
ed un approccio integrato dei sistemi per di imaging digitale di alta qualità
e nuove funzioni di misura 3D/4D. (download
PDF)
Stativi di grandi dimensioni , epidiascopici con
tavola portacampioni corsa fino a 300x300 mm
Lo stativo Axio Imager Vario è
stato sviluppato per wafer inspection e maschere di
grandi dimensioni , puo' essere dotato di tavola
portacampioni a scorrimento manuale o automatico , corsa
200x200 mm
o 300 x 300 mm e corredato di tutti i
componenti ottici e software del microscopio IMAGER (download
PDF)
Naturale espansione del microscopio Imager
,
il modulo di scansione laser consente la trasmissione
della luce
dalla
sorgente
ai rivelatori
senza
perdite,
ciò consente
una elevata sensibilità e accurate misurazioni del
profilo e della rugosità con risoluzione nanometrica (download
PDF)
Il
microscopio
confocale
Zeiss
Axio
CSM
700,
consentela misura 3D di superfici
(spessori di riporti, rugosità, analisi di nano
particelle etc) con una accuratezza molto elevata
(10 nm) ad alta velocità (100 fotogrammi/sec);
la visualizzazione topografica a immagini reali con
un software user friendly ....
I pacchetti applicativi SW ZEISS rispondono a qualsiasi
esigenza di imaging nell'ambito del controllo
qualità
di qualsiasi settore per analisi dei materiali,
conteggio particelle e nelle misure dimensionali
2D/3D/4D per l'analisi di micro, macro, nano
strutture con nuove funzioni di rilevazione di forma,
profili, rugosità, etc.
Software di Analisi morfologica 3D in tempo reale,
misure di rugosità, profilometria, esportazione file CAD
ConfoMap
ST
visualizza
superfici
3D
con funzioni in tempo reale di
zoom
e rotazioni,
il
modulo
di analisi
4D
consente l'analisi di
come
si evolve
la superficie in funzione
del
tempo,
temperatura,
pressione o
un'altra
dimensione
fisica....
Microscopia per conteggio e analisi automatica di
particelle
Il
sistema
di analisi particelle
Carl Zeiss si basa
su uno stativo
motorizzato
e codificato ad alte prestazioni.
Anche le
più piccole
particelle
diventano
chiaramente visibili e analizzate
nella loro
interezza
grazie alle funzioni di "mosaico" che permettono
di collegare con precisione "n" campi visivi in
un unico file
Sistema Laser per conteggio e analisi automatica di
particelle
Il
sistema
laser di caratterizzazione e conteggio
particelle "EYETech"
appartiene
ad una
nuova generazione di
analizzatori in grado di determinare le dimensioni delle particelle
di piccolissime dimensioni in tempi molto rapidi .
L'esperienza
trentennale nello sviluppo e realizzazione di
strumenti di misura laser
ha
guidato
la
Ambivalue
nell'introdurre
le migliori
soluzioni
per
uno spettro
diversificato
di
applicazioni.
A
partire dai primi anni '60 JEOL ha svolto un
ruolo di primo piano nello sviluppo e nell'evoluzione
del microscopio elettronico a scansione. Durante gli
ultimi cinque decenni, il SEM è diventato un tool
indispensabile sia per la scienza in laboratori di R&D
che per l’industria in attività di “failure analisys”. (download
PDF new JSM 6010)
La nostra esperienza trentennale in
metallografia ci ha permesso di selezionare le più
affidabili macchine troncatrici, lappatrici e
inglobatrici e i materiali consumabili di migliore
qualità che insieme a procedure altamente innovative
permettono di ridurre di oltre il 40% il tempo di
preparazione di un campione ....
Bruker Nano produce Microscopi a
Forza Atomica che si distinguono dagli altri prodotti
disponibili in commercio per la loro struttura robusta e
la facilità d’uso, pur mantenendo la massima
risoluzione.
Bruker propone una vasta gamma di
spettrometri con diverse metodologie (XRF ed Emissione
ottica) per rispondere alle più svariate esigenze di
analisi degli elementi, sia con apparati per
applicazioni di ricerca e caratterizzazione dei
materiali in laboratorio che in sito.
La Diffrazione a raggi X (XRD) è una
metodologia high-tech, non distruttiva per l'analisi di
una vasta gamma di materiali, compresi i liquidi,
metalli, minerali, polimeri, catalizzatori, materie
plastiche, prodotti farmaceutici, rivestimenti a film
sottile, materiali ceramiche, celle solari e
semiconduttori.
