HOME   |   CHI SIAMO   |   PRODOTTI   |   PARTNERS   |   EVENTI   |   LAVORA CON NOI   |   CONTATTACI

 

  Microscopia Elettronica
› MICROSCOPIA OTTICA E CONFOCALE
› MICROSCOPIA DIGITALE 3D
› MICROSCOPIA ELETTRONICA
› CONTA PARTICELLE LASER
› SCANNER OTTICI 3D
› PREPARAZIONE CAMPIONI ›METALLOGRAFICI
› SPETTROMETRI
› DIFFRATTOMETRI A RAGGI X
› PROVE DI TRAZIONE
› PROVE DI DUREZZA
› LABORATORI CONDIVISI
› TERMOGRAFIA
› ENDOSCOPIA DIGITALE

SEM alto vuoto / basso vuoto

 

Alto vuoto
"failure analysis", analisi di routine, caratterizzazione dei materiali

Basso vuoto
"imaging"... analisi di elementi umidi... non condutivi... campioni non metallizzati...

JSM-6010

 

JSM-6010 ่ un SEM "entry level" con filamento al tungsteno, in basso e alto vuoto, tensione variabile fino a 20 Kv,  ampia camera porta provini,  che offre una nuova esperienza SEM con l'aspetto familiare di personal media elettronici di oggi. ggi.               Le sue caratteristiche piuttosto performanti e il prezzo molto competitivo hanno il miglior rapporto prezzo/prestazioni oggi disponibile sul mercato dei SEM di qualitเ

JSM-6510

 

JSM-6510 ่ un SEM con filamento al tungsteno, in alto vuoto, ideale per failure analisys, controllo e caratterizzazione dei materiali, etc.. che riunisce le alte prestazioni ad un costo competitivo e consente la rapida caratterizzazione di strutture molto fini.

JSM-6510 LV

 

 JSM-6510LV ่ un SEM con filamento al tungsteno, in basso vuoto, ideale per failure analisys, controllo e caratterizzazione dei materiali, etc.. che riunisce le alte prestazioni ad un costo competitivo e consente la rapida caratterizzazione di strutture molto fini.

JSM-6610

 

Il JSM-6610 ่ un SEM ad alte prestazioni che consente l'osservazione di grandi oggetti e la rapida caratterizzazione di strutture molto fini.

 

JSM-6610 LV

 

Il JSM-6610LV consente la rapida caratterizzazione di strutture molto fini. Appartiene ad una famiglia di quattro modelli che sono ampiamente utilizzati in tutti i settori di ricerca e applicazioni industriali, la grande camera portacampioni consente l'osservazione di esemplari fino a 200 mm di diametro.

SEM con microanalisi EDS

 

Alto vuoto
"failure analysis", analisi di routine, caratterizzazione dei materiali

Basso vuoto
"imaging"... analisi di elementi umidi... non condutivi... campioni non metallizzati...

JSM-6510A / JSM-6510LA

 

La famiglia JSM-6510A e JSM-6510LA riunisce le alte prestazioni ad un costo competitivo e consente la rapida caratterizzazione di strutture molto fini.

 

JSM-6610A / JSM-6610LA

 

I SEM JSM-6610A e JSM-6610lA sono microscopi ad alte prestazioni che consentono la rapida caratterizzazione di strutture molto fini su campioni di grandi dimensioni.

 

JSM-7001F

 

Il JSM-7001F, Thermal Field Emission SEM, ่ la piattaforma ideale per applicazioni analitiche, nonch้ quelle che richiedono alta risoluzione e la facilitเ d'uso.

 

› maggiori info

Si.Mi.Tecno srl   -   P.I. 05863031000

Sede di Roma: Via Marcello Gallian, 68 - 00133 Roma - Tel/Fax 06 7234320