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SEM alto vuoto / basso vuoto |
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Alto vuoto
"failure analysis", analisi di routine,
caratterizzazione dei materialiBasso vuoto
"imaging"... analisi di elementi umidi... non condutivi...
campioni non metallizzati...
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JSM-6010 ่ un SEM "entry level" con
filamento al tungsteno, in basso e alto vuoto, tensione
variabile fino a 20 Kv, ampia camera porta
provini, che
offre
una nuova esperienza
SEM
con
l'aspetto
familiare di
personal media
elettronici
di oggi. ggi.
Le sue caratteristiche piuttosto
performanti e il prezzo molto competitivo hanno il
miglior rapporto prezzo/prestazioni oggi disponibile sul
mercato dei SEM di qualitเ
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JSM-6510 ่ un SEM con filamento al
tungsteno, in alto vuoto, ideale per failure analisys,
controllo e caratterizzazione dei materiali, etc.. che
riunisce le alte prestazioni ad un costo competitivo e
consente la rapida caratterizzazione di strutture molto
fini.
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JSM-6510LV ่ un SEM con filamento al
tungsteno, in basso vuoto, ideale per failure analisys,
controllo e caratterizzazione dei materiali, etc.. che
riunisce le alte prestazioni ad un costo competitivo e
consente la rapida caratterizzazione di strutture molto
fini.
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Il JSM-6610 ่ un SEM ad alte
prestazioni che consente l'osservazione di grandi
oggetti e la rapida caratterizzazione di strutture molto
fini.
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Il JSM-6610LV consente la rapida
caratterizzazione di strutture molto fini. Appartiene ad
una famiglia di quattro modelli che sono ampiamente
utilizzati in tutti i settori di ricerca e applicazioni
industriali, la grande camera portacampioni consente
l'osservazione di esemplari fino a 200 mm di diametro.
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Alto vuoto
"failure analysis", analisi di routine,
caratterizzazione dei materialiBasso vuoto
"imaging"... analisi di elementi umidi... non condutivi...
campioni non metallizzati...
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La famiglia JSM-6510A e JSM-6510LA
riunisce le alte prestazioni ad un costo competitivo e
consente la rapida caratterizzazione di strutture molto
fini.
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I SEM JSM-6610A e JSM-6610lA sono
microscopi ad alte prestazioni che consentono la rapida
caratterizzazione di strutture molto fini su campioni di
grandi dimensioni.
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Il JSM-7001F, Thermal Field Emission SEM, ่ la
piattaforma ideale per applicazioni analitiche,
nonch้ quelle che richiedono alta risoluzione e la
facilitเ d'uso.
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