SEM alto vuoto / basso vuoto

Basso vuoto
"imaging"... analisi di elementi umidi... non condutivi... campioni non metallizzati...

JSM-6510

JSM-6510 è un SEM con filamento al tungsteno, in alto vuoto, ideale per failure analisys, controllo e caratterizzazione dei materiali, etc.. che riunisce le alte prestazioni ad un costo competitivo e consente la rapida caratterizzazione di strutture molto fini.

 JSM-6510LV è un SEM con filamento al tungsteno, in basso vuoto, ideale per failure analisys, controllo e caratterizzazione dei materiali, etc.. che riunisce le alte prestazioni ad un costo competitivo e consente la rapida caratterizzazione di strutture molto fini.

JSM-6610

Il JSM-6610 è un SEM ad alte prestazioni che consente l'osservazione di grandi oggetti e la rapida caratterizzazione di strutture molto fini.

JSM-6610 LV

Il JSM-6610LV consente la rapida caratterizzazione di strutture molto fini. Appartiene ad una famiglia di quattro modelli che sono ampiamente utilizzati in tutti i settori di ricerca e applicazioni industriali, la grande camera portacampioni consente l'osservazione di esemplari fino a 200 mm di diametro.

Basso vuoto
"imaging"... analisi di elementi umidi... non condutivi... campioni non metallizzati...

La famiglia JSM-6510A e JSM-6510LA riunisce le alte prestazioni ad un costo competitivo e consente la rapida caratterizzazione di strutture molto fini.

I SEM JSM-6610A e JSM-6610lA sono microscopi ad alte prestazioni che consentono la rapida caratterizzazione di strutture molto fini su campioni di grandi dimensioni.