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MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE JSM-6510
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JSM-6510 č un SEM con filamento al
tungsteno, in alto vuoto, ideale per failure analisys,
controllo e caratterizzazione dei materiali, etc.. che
riunisce le alte prestazioni ad un costo competitivo e
consente la rapida caratterizzazione di strutture molto
fini.
Appartiene ad una famiglia di quattro
modelli che sono ampiamente utilizzati in tutti i
settori di ricerca e applicazioni industriali; la camera
portacampioni permette l'osservazione di esemplari fino
a 150 mm di diametro. |
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Nell'evoluzione di questa popolare famiglia di SEM
famiglia, JEOL ha migliorato notevolmente la
funzionalitą e la capacitą di unire ad un'alta
risoluzione delle immagini una notevole versatilitą ed
una intuitiva interfaccia utente che ne consente il
rapido e facile impiego |
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Dati tecnici |
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Risoluzione |
3.0 nm (30kV) in
alto vuoto
4..0 nm (30kV) in
basso vuoto (OPZIONE) |
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Tensione di
accelerazione |
0.5 a 30 kV |
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Ingrandimenti |
x5 a 300,000
(formato foto a 128mm x 96mm) |
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Filamento |
Pre-centrato W
hairpin filament (with continuous auto bias) |
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Lente |
Super conica
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Apertura lente
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Tre posizioni,
controllabile in direzione X/Y |
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Massima dimensione
del campione |
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GS Type stage |
32mm full coverage |
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LGS Type stage |
125mm dia. full
coverage (152.4mm dia. loadable) |
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Tavolino
portacampioni** |
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Tavolino tipo GS |
Goniometro
eucentrico
X=20mm, Y=10mm, Z=5mm-48mm
R=360° (endless)
Tilt -10/+90° |
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Tavolino tipo LGS |
Goniometro
eucentrico
X=80mm, Y=40mm, Z=5mm-48mm
R=360° (endless)
Tilt -10/+90°
(controllato da PC 2, 3 o 5 assi motor drive:
opzione) |
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** Il tavolino (GS o
LGS) deve essere specificato al momento
dell'acquisto. |
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Si.Mi.Tecno srl -
P.I. 05863031000 |
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7234320 |
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