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MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE JSM-6510A / JSM-6510LA
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La famiglia JSM-6510A e JSM-6510LA
riunisce le alte prestazioni ad un costo competitivo e
consente la rapida caratterizzazione di strutture molto
fini.
Appartiene ad una famiglia di quattro
modelli che sono ampiamente utilizzati in tutti i
settori di ricerca e applicazioni industriali, la camera
portacampioni permette l'osservazione di esemplari fino
a 150 mm di diametro. |
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Nell'evoluzione di questa popolare
famiglia di SEM famiglia, JEOL ha migliorato
notevolmente la funzionalità e la capacità di unire ad
un'alta risoluzione delle immagini una notevole
versatilità ed una semplice interfaccia utente che ne
consente l'impiego anche ad operatori che non hanno una
particolare familiarità con questo tipo di
apparecchiature. |
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Sonda ECS
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Dual live - dual monitor

JEOL è l’unico produttore al mondo
che sviluppa e produce sia Microscopi Elettronici a
Scansione che Sistemi di Microanalisi EDS assicurando
una perfetta integrazione sia hardware che software |
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Al minimo ingrandimento è
possibile inquadrare un campo visivo di 25 mm nel quale
localizzare l'area di interesse; l'operatore può
agevolmente modificare gli ingrandimenti in continuo
senza alcuna variazione di messa a fuoco e visualizzare
rapidamente l'area di interesse ad alto ingrandimento.
A basso voltaggio (1kV) possono
essere osservate strutture molto fini su campioni non
conduttivi e senza metallizzazione.
Il SEM può essere up-gradato per
operazioni in basso vuoto. |
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Il sistema ottico elettronico
consente l'elevata risoluzione di 3.0 nm a 30kV;
JSM-6510 offre una sorprendente nitidezza anche nella
visualizzazione delle strutture più fini.
Grazie agli automatismi operativi
(dispositivi di autoregolazione del cannone elettronico,
contrasto, luminosità, astigmatismo, etc.) dopo pochi
minuti di evacuazione della camera portacampioni
l'operatore può osservare il campione semplicemente
premendo il tasto ON e iniziare immediatamente ad usare
lo strumento seguendo le opzioni del potente software in
dotazione con lo strumento menu interfaccia utente |
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Dati tecnici |
| Risoluzione |
3.0 nm (30kV) in
alto vuoto
4..0 nm (30kV)
in basso vuoto
2.0 nm (Lab6) |
| Tensione di
accelerazione |
0.5 a 30 kV |
| Ingrandimenti |
x5 a 1.000.000
x5 a 300.000 (ingrandimenti diretti) |
| Filamento |
Pre-centrato W
hairpin filament (with continuous auto bias) |
| Lente
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Super conica
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| Apertura lente
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Tre posizioni,
controllabile in direzione X/Y |
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Sonda EDS |
integrata |
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Massima
dimensione del campione |
| GS Type stage |
32mm full
coverage |
| LGS Type stage |
125mm dia. full
coverage (152.4mm dia. loadable) |
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Peso |
2 Kg |
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la camera dispone di 8
porte ausiliarie per l'installazione di
ulteriori accessori
Tavolino portacampioni** |
| Tavolino tipo GS |
Goniometro
eucentrico X=20mm, Y=10mm, Z=5mm-48mm R=360° (endless) Tilt -10/+90° |
| Tavolino tipo
LGS |
Goniometro
eucentrico X=80mm, Y=40mm, Z=5mm-48mm R=360° (endless) Tilt -10/+90° (controllato da PC 2, 3 o 5 assi motor
drive: opzione) |
| ** Il tavolino
(GS o LGS) deve essere specificato al
momento dell'acquisto. |
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Si.Mi.Tecno srl -
P.I. 05863031000 |
Sede di Roma: Via Marcello Gallian, 68 - 00133 Roma - Tel/Fax 06
7234320 |
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