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MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE JSM-6610
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Il JSM-6610 è un SEM ad alte
prestazioni che consente l'osservazione di grandi
oggetti e la rapida caratterizzazione di strutture molto
fini.
Appartiene ad una famiglia di quattro
modelli che sono ampiamente utilizzati in tutti i
settori di ricerca e applicazioni industriali, la grande
camera portacampioni permette l'osservazione di
esemplari fino a 200 mm di diametro. |
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Nell'evoluzione di questa popolare famiglia di SEM
famiglia, JEOL ha migliorato notevolmente la
funzionalità e la capacità di unire ad un'alta
risoluzione delle immagini una notevole versatilità ed
una semplice interfaccia utente che ne consente
l'impiego anche ad operatori che non hanno una
particolare familiarità con questo tipo di
apparecchiature. |
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"Large Stage" del microscopio 6610 |
Dimensioni della porta: 265 x 190 mm
Dimensioni della camera: 330 x 290 x 340 |
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Con l'elevata risoluzione di 3.0 nm a 30kV, il JSM-6510
offre una grande nitidezza delle piu’ piccole strutture.
Oltre alle immagini di routine a diverse centinaia di
volte maggiore rispetto alla risoluzione di un
microscopio ottico, e con una profondità di campo
diverse decine di volte superiore al microscopio ottico,
il SEM consente misurazioni dettagliate, tra cui la
misurazione 3D di immagini stereo. La doppia
visualizzazione delle immagini degli elettroni secondari
e la composizione di una immagine retrodiffusa consente
all'utente di regolare al meglio il contrasto e di
confrontare dettagli specifici.
Lo spettrometro opzionale a raggi X a
dispersione di energia (EDS), prevede l'analisi chimica
degli elementi. |
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Al minimo ingrandimento è possibile
inquadrare un campo visivo di 25 mm nel quale
localizzare l'area di interesse; l'operatore può
agevolmente modificare gli ingrandimenti in continuo
senza alcuna variazione di messa a fuoco e visualizzare
rapidamente l'area di interesse ad alto ingrandimento.
A basso voltaggio (1kV) possono
essere osservate strutture molto fini su campioni non
conduttivi e senza metallizzazione.
Il SEM può essere up-gradato per operazioni in basso
vuoto. |
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Mediante la lente super conica il
fascio elettronico viene focalizzato con grande
precisione fino ad ottenere l'elevata risoluzione di 3.0
nm a 30kV; JSM-6510 offre una sorprendente nitidezza
anche nella visualizzazione delle strutture più fini.
Grazie agli automatismi operativi
(dispositivi di autoregolazione del cannone elettronico,
contrasto, luminosità, astigmatismo, etc.) dopo pochi
minuti di evacuazione della camera portacampioni
l'operatore può osservare il campione semplicemente
premendo il tasto ON e iniziare immediatamente ad usare
lo strumento seguendo le opzioni del potente software in
dotazione con lo strumento menu interfaccia utente |
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Dati tecnici |
| Risoluzione |
3.0 nm (30kV) in alto vuoto
4..0 nm (30kV) in basso vuoto (opzione) |
| Tensione di
accelerazione |
0.5 to 30 kV |
| Ingrandimenti |
x5 A 300,000
(formato foto a 128mm x 96mm) |
| Filamento |
Pre-centrato W
hairpin filament (with continuous auto bias) |
| Lente |
Super conica
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| Apertura lente
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Tre posizioni,
controllabile in direzione X/Y |
| Massima dimensione
del campione |
200 mm |
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| Tavolino
portacampioni |
5 assi
controllati da PC , goniometro eucentrico
X=125mm, Y=100mm, Z=5 to 80mm
T= -10 to 90°, R=360° (endless) |
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** Il tavolino (GS o LGS) deve essere
specificato al momento dell'acquisto. |
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Si.Mi.Tecno srl -
P.I. 05863031000 |
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7234320 |
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