MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE JSM-6610A / JSM-6610LA

 

Caratteristiche

 

I SEM JSM-6610A e JSM-6610lA sono microscopi ad alte prestazioni che consentono la rapida caratterizzazione di strutture molto fini su campioni di grandi dimensioni.

Appartiene ad una famiglia di quattro modelli che sono ampiamente utilizzati in tutti i settori di ricerca e applicazioni industriali, la camera portacampioni permette l'osservazione di esemplari fino a 200 mm di diametro.

Nell'evoluzione di questa popolare famiglia di SEM famiglia, JEOL ha migliorato notevolmente la funzionalità e la capacità di unire ad un'alta risoluzione delle immagini una notevole versatilità ed una semplice interfaccia utente che ne consente l'impiego anche ad operatori che non hanno una particolare familiarità con questo tipo di apparecchiature.

 
Sonda ECS
Dual live - dual monitor

 

JEOL è l’unico produttore al mondo che sviluppa e produce sia Microscopi Elettronici a Scansione che Sistemi di Microanalisi EDS assicurando una perfetta integrazione sia hardware che software

 

 

 
 
 

 Al minimo ingrandimento è possibile inquadrare un campo visivo di 25 mm nel quale localizzare l'area di interesse; l'operatore può agevolmente modificare gli ingrandimenti in continuo senza alcuna variazione di messa a fuoco e visualizzare rapidamente l'area di interesse ad alto ingrandimento.

A basso voltaggio (1kV) possono essere osservate strutture molto fini su campioni non conduttivi e senza metallizzazione.

Il SEM può essere up-gradato per operazioni in basso vuoto.

 Il sistema ottico elettronico consente l'elevata risoluzione di 3.0 nm a 30kV; JSM-6610 offre una sorprendente nitidezza anche nella visualizzazione delle strutture più fini.

Grazie agli automatismi operativi (dispositivi di autoregolazione del cannone elettronico, contrasto, luminosità, astigmatismo, etc.) dopo pochi minuti di evacuazione della camera portacampioni l'operatore può osservare il campione semplicemente premendo il tasto ON e iniziare immediatamente ad usare lo strumento seguendo le opzioni del potente software in dotazione con lo strumento menu interfaccia utente

 
Dati tecnici
Risoluzione

3.0 nm (30kV) in alto vuoto

4..0 nm (30kV) in basso vuoto

Tensione di accelerazione 0.5 a 30 kV
Ingrandimenti x5 a 300.000 (formato foto a 128mm x 96mm)
Filamento Pre-centrato W hairpin filament (with continuous auto bias)
Lente

Super conica

Apertura lente Tre posizioni, controllabile in direzione X/Y
Sonda EDS integrata
Tavolino portacampioni 5 assi controllati da PC, goniometro eucentrico
X=125mm, Y=100mm, Z=5mm-80mm
T=-10 TO 90°, R=360° (endless)
** Il tavolino (GS o LGS) deve essere specificato al momento dell'acquisto.
 
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