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MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE JSM-6610 LV
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Il JSM-6610LV consente la
rapida caratterizzazione di strutture molto fini.
Appartiene ad una famiglia di quattro modelli che sono
ampiamente utilizzati in tutti i settori di ricerca e
applicazioni industriali, la grande camera portacampioni
consente l'osservazione di esemplari fino a 200 mm di
diametro.
La modalità di lavoro in basso vuoto
permette l'osservazione di oggetti non ispezionabili ad
alto vuoto a causa di un eccessivo contenuto di acqua o
perchè non conduttivI. |
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Questo SEM offre estese funzionalità,
alta risoluzione delle immagini, una notevole
versatilità ed una semplice interfaccia utente che ne
consente l'impiego anche ad operatori che non hanno una
particolare familiarità con questo tipo di
apparecchiature. |
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"Large Stage" del microscopio 6610 |
Dimensioni della porta: 265 x 190 mm
Dimensioni della camera: 330 x 290 x 340 |
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Al minimo ingrandimento è possibile
inquadrare un campo visivo di 25 mm nel quale
localizzare l'area di interesse; l'operatore può
agevolmente modificare gli ingrandimenti in continuo
senza alcuna variazione di messa a fuoco e visualizzare
rapidamente l'area di interesse ad alto ingrandimento.
A basso voltaggio (1kV) possono
essere osservate strutture molto fini su campioni non
conduttivi e senza metallizzazione.
Il SEM può essere up-gradato per operazioni in basso
vuoto. |
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Mediante la lente super conica il
fascio elettronico viene focalizzato con grande
precisione fino ad ottenere l'elevata risoluzione di 3.0
nm a 30kV; JSM-6510 offre una sorprendente nitidezza
anche nella visualizzazione delle strutture più fini.
Grazie agli automatismi operativi
(dispositivi di autoregolazione del cannone elettronico,
contrasto, luminosità, astigmatismo, etc.) dopo pochi
minuti di evacuazione della camera portacampioni
l'operatore può osservare il campione semplicemente
premendo il tasto ON e iniziare immediatamente ad usare
lo strumento seguendo le opzioni del potente software in
dotazione con lo strumento menu interfaccia utente |
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Dati tecnici |
| Risoluzione |
3.0 nm (30kV) in alto vuoto
4..0 nm (30kV) in basso vuoto |
| Tensione di
accelerazione |
0.5 to 30 kV |
| Ingrandimenti |
x5 A 300,000
(formato foto a 128mm x 96mm) |
| Filamento |
Pre-centrato W
hairpin filament (with continuous auto bias) |
| Lente |
Super conica
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| Apertura lente
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Tre posizioni,
controllabile in direzione X/Y |
| Sonda EDS |
OPZIONALE |
| Massima dimensione
del campione |
200 mm |
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| Tavolino
portacampioni |
5 assi
controllati da PC , goniometro eucentrico
X=125mm, Y=100mm, Z=5 to 80mm
T= -10 to 90°, R=360° (endless) |
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** Il tavolino (GS o LGS) deve essere
specificato al momento dell'acquisto. |
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