Porta campioni X-view
L'X-view è stato progettato per esaminare sezioni di campioni. Esso utilizza un semplice meccanismo di bloccaggio che elimina la necessità di viti e di strumenti di clampaggio dei campioni. Questo dispositivo permette il bloccaggio di una vasta gamma di componenti, quali film sottili di rivestimento, vernici, superfici di frattura, viti, etc.

Porta campioni per microelettronica
Specificatamente progettato per alloggiare microcomponenti elettronici senza necessità di utilizzare colle o altri tipi di adesivi; il suo particolare disegno permette di non graffiare i componenti , di non contaminarli e di osservarli dopo una preparazione istantanea.

Porta campioni a riduzione di carica
Permette l'osservazione di campioni non conduttivi; con questo portacampioni possono essere osservati campioni di qualsiasi genere, quali: carta, polimeri, materiale organico, ceramici, vetro, rivestimenti di qualsiasi natura, etc.

Porta campioni metallografici inglobati
Questo portacampioni opzionali permette l'osservazione diretta dei campioni metallografici inglobati in biccchierini standard di resina.

Porta campioni per osservazioni ad alta risoluzione
Portacampioni standard per l'osservazione ad alta risoluzione (30 nm); puo' alloggiare campioni di forma tridimensionale fino a 25 mm di diametro e 30 mm di altezza.