Prenoti una dimostrazione personalizzata di apparati ottici ed elettronici di nuova generazione e nuove metodologie di ispezione dei materiali

  • acquisizione/digitalizzazione/misura 3D e analisi difettologica di componenti di qualsiasi forma e dimensione e in qualsiasi condizione operativa

  • caratterizzazione dei materiali

  • scansioni 3D a luce strutturata e variazione di fuoco, reverse engineering e comparazioni CAD

  • misure dimensionali 3D senza contatto di rugosità e forma

  • analisi chimica degli elementi, analisi morfologica e ricostruzione topografica di superfici e di macro / micro / nano strutture

  • indagine strutturale dell'integrità dei materiali mediante sistemi automatici ad ultrasuoni

  • integrazione di dati multiscala e simulazioni FEM

 
I ns. Consulenti sono a Sua disposizione per un approfondimento delle caratteristiche strumentali degli apparati. In caso di Suo interesse i ns. Specialisti potranno quindi organizzare dimostrazioni pratiche finalizzate alle Sue applicazioni per una verifica della loro rispondenza alle Sue esigenze di ricerca e sviluppo e di assicurazione della qualità dei materiali.

In questa pagina sono elencati i principali prodotti distribuiti o rappresentati dalla ns. Società e le date delle programmate giornate di studio,  conferenze, training, fiere, etc. in occasione delle quali saranno disponibili le apparecchiature per le sperimentazioni.

 

Stereo Microscopio

ZEISS STEMI DV4

Stereo Microscopio

ZEISS STEMI 2000

Stereo Microscopio

ZEISS DISCOVERY

Stereo Microscopio

ZEISS DISCOVERY V20

 

27-29 Marzo 2012 - Politecnico di Milano - Bovisa

Giornata di studio sulla Microscopia di superficie | Acquisizione Dati caratteristici multiparametrici | Digitalizzazione 3D di Immagini | Misure Ottiche 3D | Analisi chimica e morfologica di Macro / Micro / Nano strutture | Reverse Engineering | Importazioni file CAD | Comparazioni CAD | Correlazione dati multiscala | FEM Analysis


Microscopio Metallografico

ZEISS AXIOLAB

Microscopio Metallografico

 

ZEISS AXIOSCOPE

Microscopio Metallografico

 

ZEISS OBSERVER

Microscopio Metallografico e confocale

ZEISS IMAGER LSM 700



Alicona Infinite Focus

Misura 3D di rugosità e Forma

Alicona Edge Master

Misura 3D di Inserti di Metallo

Alicona Real 3D

Digitalizzazione 3D di utensili

Scanner a luce strutturata

Breuckmann SmartScan


 

Video Microscopio Digitale 3D

HIROX

Microscopio Elettronico TableTop

PHENOMWORLD

SEM "TouchInScope + EDS

JEOL

Controlli automatici ad Ultrasuoni

TECNATOM-METALSCAN


05-07 Giugno 2012 - Politecnico di Milano - Bovisa

Giornata di studio sulla Microscopia di superficie | Acquisizione Dati caratteristici multiparametrici | Digitalizzazione 3D di Immagini | Misure Ottiche 3D | Analisi chimica e morfologica di Macro / Micro / Nano strutture | Reverse Engineering | Importazioni file CAD | Comparazioni CAD | Correlazione dati multiscala | FEM Analysis


Caratterizzazione dei materiali nalisi Chimiche, fisiche e morfologiche Macro, Micro, Nano strutture Reverse engineering

 

Non esiti a contattarci per maggiori dettagli sugli eventi e per prenotare una dimostrazione

Lo Staff Si.Mi.Tecno

Uffici di Roma tel. 06 7234320 -  Matteo Trombettoni

Uffici di Milano tel. 02 89151946 - Marco Brecciaroli

E-mail:
alessandro@simitecno.it ; marco@simitecno.it ; matteo@simitecno.it

Web site: www.simitecno.it

Inoltri il calendario dell' Evento ai suoi colleghi interessati , la partecipazione è Gratuita.